样品无需转移，只需切换工具

不需要来回转移样品，只需要简单地更换处理样品的工具就可完成样品处理过程，并且样品处理全过程都可通过显微镜进行实时观察。Leica EM TXP可对样品进行如下处理：铣削，切割，研磨，抛光，冲钻。

自动化样品处理过程控制

·带有自动化E-W运动控制机制

·带有自动化应力反馈机制

·带有自动化进程或时间倒计数功能

·带有应力反馈控制的空心钻自动前进

·带有润滑冷却剂自动注液和液面监控机制

精确的目标定位

·在显微镜辅助观察下，通过精密移动工具来帮助你实现精确的目标定位。

·如移动锯片到接近目标位置进行切割；然后不用取下样品，直接将锯片更换成研磨片对目标位置进行快速研磨；当快接近目标位置，可以采用Count down倒计数功能，自动研磨指定厚度（∑um），或*后采用Count down倒计时功能，自动抛光。

·得益于精密机械控制部件，样品加工工具步进精度*小可达0.5um。

精确的角度校准

·在显微镜辅助观察下，通过角度校准适配器帮助你实现对样品角度的微调。

·角度校准适配器固定在样品夹具和样品悬臂之间，可以实现水平方向和垂直方向分别±5°角度微调。

主要技术参数：

·工具前进步进：100μm，10μm，1μm及0.5μm可选。显示进程，并具有快进和撤回功能

·工具轴承转速：300~ 20000rpm可调

·具有自动进程倒计数，自动时间倒计时功能，具有自动应力反馈功能

·样品处理过程可由蠕动泵自动泵取冷却液/研磨液，并可接吸尘器

·带有体视镜观察系统，LED环形照明，4分格，带有坐标尺，可接摄像头

·可选工具: 切割锯片，铣刀，抛光片，?3mm 空心钻